TEM観察試料薄片化に伴う歪緩和の解析

国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/11064962

資料種別: 記事

著者: 下田平寛ほか

出版者: アンリツ

出版年: 2006-03-01

資料形態: デジタル

掲載誌名: アンリツテクニカル (82)

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書誌情報

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デジタル

資料種別: 記事
タイトル: TEM観察試料薄片化に伴う歪緩和の解析
著者・編者: 下田平寛
中村賢一
出版事項: 日本 : アンリツ
出版年月日等: 2006-03-01
出版年（W3CDTF）: 2006-03-01
並列タイトル等: Analysis of elastic relaxation in specimens thinned for transmission electon microscopy
タイトル（掲載誌）: アンリツテクニカル
巻号年月日等（掲載誌）: (82)
掲載巻: (82)
本文の言語コード: jpn
国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/11064962
https://dl.ndl.go.jp/pid/11064962
コレクション（共通）: 障害者向け資料
コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00035
収集根拠: オンライン資料収集制度
受理日（W3CDTF）: 2018-04-04T22:50:46+09:00
保存日（W3CDTF）: 2017-12-27
記録形式（IMT）: application/pdf
オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
遠隔複写可否（NDL）: 可
掲載誌（URI）: https://www.anritsu.com/ja-JP/about-anritsu/r-d/technical-review
掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/11064948
https://dl.ndl.go.jp/pid/11064948
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp