TEM観察試料薄片化に伴う歪緩和の解析

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11064962

Material type: 記事

Author: 下田平寛ほか

Publisher: アンリツ

Publication date: 2006-03-01

Material Format: Digital

Journal name: アンリツテクニカル (82)

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Bibliographic Record

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Digital

Material Type: 記事
Title: TEM観察試料薄片化に伴う歪緩和の解析
Author/Editor: 下田平寛
中村賢一
Publication, Distribution, etc.: 日本 : アンリツ
Publication Date: 2006-03-01
Publication Date (W3CDTF): 2006-03-01
Alternative Title: Analysis of elastic relaxation in specimens thinned for transmission electon microscopy
Periodical title: アンリツテクニカル
No. or year of volume/issue: (82)
Volume: (82)
Text Language Code: jpn
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11064962
https://dl.ndl.go.jp/pid/11064962
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00035
Acquisition Basis: オンライン資料収集制度
Date Accepted (W3CDTF): 2018-04-04T22:50:46+09:00
Date Captured (W3CDTF): 2017-12-27
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Periodical Title (URI): https://www.anritsu.com/ja-JP/about-anritsu/r-d/technical-review
Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/11064948
https://dl.ndl.go.jp/pid/11064948
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp