博士論文

GaN HEMTにおける表面起因の動作不安定性とAl2O3 MOS構造による制御

博士論文を表すアイコン
表紙は所蔵館によって異なることがあります ヘルプページへのリンク

GaN HEMTにおける表面起因の動作不安定性とAl2O3 MOS構造による制御

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/11099656
資料種別
博士論文
著者
西口, 賢弥
出版者
Hokkaido University
出版年
2018-03-22
資料形態
デジタル
ページ数・大きさ等
-
授与大学名・学位
北海道大学,博士(工学)
すべて見る

国立国会図書館での利用に関する注記

本資料は、掲載誌(URI)等のリンク先にある学位授与機関のWebサイトやCiNii Dissertations外部サイトから、本文を自由に閲覧できる場合があります。

資料に関する注記

一般注記:

(主査) 教授 本久 順一, 教授 葛西 誠也, 特任教授 佐野 栄一, 教授 橋詰 保情報科学研究科(情報エレクトロニクス専攻)

書店で探す

障害者向け資料で読む

全国の図書館の所蔵

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

  • 北海道大学学術成果コレクション

    デジタル
    連携先のサイトで、学術機関リポジトリデータベース(IRDB)(機関リポジトリ)が連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

デジタル

資料種別
博士論文
著者・編者
西口, 賢弥
著者標目
出版年月日等
2018-03-22
出版年(W3CDTF)
2018-03-22
並列タイトル等
Surface-related operation instabilities of GaN HEMTs and their control using Al2O3-based MOS structures
寄与者
本久, 順一
葛西, 誠也
佐野, 栄一
橋詰, 保
授与機関名
北海道大学