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電子機器の構造信頼性評価における大規模接触解析手法に関する研究
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書誌情報
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- 資料種別
- 博士論文
- 著者・編者
- 稲垣, 和久
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2016
- 出版年（W3CDTF）
- 2016
- 並列タイトル等
- Large scale contact analysis method for evaluating structural reliability of electronic devices
- 授与機関名
- 東京大学
- 授与年月日
- 2016-03-24
- 授与年月日（W3CDTF）
- 2016-03-24