電子機器の構造信頼性評価における大規模接触解析手法に関する研究

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Material Type: 博士論文
Title: 電子機器の構造信頼性評価における大規模接触解析手法に関する研究
Author/Editor: 稲垣, 和久
Publication, Distribution, etc.: 稲垣, 和久
Publication Date: 2016
Publication Date (W3CDTF): 2016
Alternative Title: Large scale contact analysis method for evaluating structural reliability of electronic devices
Degree grantor/type: 東京大学
Date Granted: 2016-03-24
Date Granted (W3CDTF): 2016-03-24
Dissertation Number: 甲第32965号
Degree Type: 博士(環境学)
Text Language Code: jpn
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11125018
https://dl.ndl.go.jp/pid/11125018
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
Acquisition Basis: 博士論文（送信）
Date Accepted (W3CDTF): 2018-08-06T20:26:19+09:00
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp