原子間力顕微鏡によるDNA損傷の検出 : 第28回大会シンポジウム : II.新しい変異原検出法へのアプローチ

• 資料種別: 記事
• タイトル: 原子間力顕微鏡によるDNA損傷の検出 : 第28回大会シンポジウム : II.新しい変異原検出法へのアプローチ
• 著者・編者: 村上,正弘; 古川,章; 南久松,真子; 早田,勇
• 出版事項: 日本 : 日本環境変異原学会
• 出版年月日等: 2000-07-31
• 出版年（W3CDTF）: 2000-07-31
• 並列タイトル等: Atomic force microscopy of DNA damage
• タイトル（掲載誌）: 環境変異原研究
• 巻号年月日等（掲載誌）: 22(2)
• 掲載巻: 22(2)
• 掲載ページ: 103-105
• 本文の言語コード: JPN
• 著者別名: Murakami,Masahiko; Furukawa,Akira; Minamihisamatsu,Masako; Hayata,Isamu
• 件名標目: atomic force microscope; DNA damage
• 一般注記: 著者所属: 放射線医学総合研究所障害基盤研究部; Affiliation: Division of Radiobiology and Biodosimetry, National Institute of Radiological Sciences
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/11150044; https://dl.ndl.go.jp/pid/11150044
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• 収集根拠: NII-ELS
• 公開開始日（W3CDTF）: 2018-09-12
• 受理日（W3CDTF）: 2018-09-05
• 保存日（W3CDTF）: 2018-09-05
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/11151376; https://dl.ndl.go.jp/pid/11151376
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• 要約等: An atomic force microscope (AFM) has become a useful tool to visualize biological molecules with nanometer level resolution. It is theoretically possi...