原子間力顕微鏡によるDNA損傷の検出 : 第28回大会シンポジウム : II.新しい変異原検出法へのアプローチ

• Material Type: 記事
• Title: 原子間力顕微鏡によるDNA損傷の検出 : 第28回大会シンポジウム : II.新しい変異原検出法へのアプローチ
• Author/Editor: 村上,正弘; 古川,章; 南久松,真子; 早田,勇
• Publication, Distribution, etc.: 日本 : 日本環境変異原学会
• Publication Date: 2000-07-31
• Publication Date (W3CDTF): 2000-07-31
• Alternative Title: Atomic force microscopy of DNA damage
• Periodical title: 環境変異原研究
• No. or year of volume/issue: 22(2)
• Volume: 22(2)
• Pages: 103-105
• Text Language Code: JPN
• Alias of Author: Murakami,Masahiko; Furukawa,Akira; Minamihisamatsu,Masako; Hayata,Isamu
• Subject Heading: atomic force microscope; DNA damage
• Note (General): 著者所属: 放射線医学総合研究所障害基盤研究部; Affiliation: Division of Radiobiology and Biodosimetry, National Institute of Radiological Sciences
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11150044; https://dl.ndl.go.jp/pid/11150044
• Collection: 障害者向け資料
• Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• Acquisition Basis: NII-ELS
• Available (W3CDTF): 2018-09-12
• Date Accepted (W3CDTF): 2018-09-05
• Date Captured (W3CDTF): 2018-09-05
• Format (IMT): application/pdf
• Access Restrictions: インターネット公開
• Availability of remote photoduplication service: 不可
• Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/11151376; https://dl.ndl.go.jp/pid/11151376
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

• Summary, etc.: An atomic force microscope (AFM) has become a useful tool to visualize biological molecules with nanometer level resolution. It is theoretically possi...