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電子書籍・電子雑誌液晶 : 日本液晶学会誌 : Ekisho
巻号17 (1)
Time-of-Fl...

Time-of-Flight法によるキャリア移動度の測定

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Time-of-Flight法によるキャリア移動度の測定

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/11265335
資料種別
記事
著者
舟橋正浩
出版者
日本液晶学会
出版年
2013-01-25
資料形態
デジタル
掲載誌名
液晶 : 日本液晶学会誌 : Ekisho 17(1)
掲載ページ
-
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
舟橋正浩
出版年月日等
2013-01-25
出版年(W3CDTF)
2013-01-25
並列タイトル等
Measurement of carrier mobility in liquid-crystalline systems using time-of-flight methods
タイトル(掲載誌)
液晶 : 日本液晶学会誌 : Ekisho
巻号年月日等(掲載誌)
17(1)
掲載巻
17(1)