Time-of-Flight法によるキャリア移動度の測定

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11265335

Material type: 記事

Author: 舟橋正浩

Publisher: 日本液晶学会

Publication date: 2013-01-25

Material Format: Digital

Journal name: 液晶 : 日本液晶学会誌 : Ekisho 17(1)

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Digital

Material Type: 記事
Title: Time-of-Flight法によるキャリア移動度の測定
Author/Editor: 舟橋正浩
Publication, Distribution, etc.: 日本 : 日本液晶学会
Publication Date: 2013-01-25
Publication Date (W3CDTF): 2013-01-25
Alternative Title: Measurement of carrier mobility in liquid-crystalline systems using time-of-flight methods
Periodical title: 液晶 : 日本液晶学会誌 : Ekisho
No. or year of volume/issue: 17(1)
Volume: 17(1)
ISSN (Periodical Title): 2189-2512
ISSN-L (Periodical Title): 1880-6449
Text Language Code: jpn
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/11265335
https://dl.ndl.go.jp/pid/11265335
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
Acquisition Basis: オンライン資料収集制度
Date Accepted (W3CDTF): 2019-04-05T00:43:31+09:00
Date Captured (W3CDTF): 2018-12-26
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Periodical Title (URI): https://bunken.org/jlcs/html/2013_1.html
Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/11265327
https://dl.ndl.go.jp/pid/11265327
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp