光電子ホログラフィー法による強磁性半導体Ge0.6Mn0.4Teの原子構造解析
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書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 八方直久仙波伸也松下智裕
- 出版年月日等
- 2020-01-22
- 出版年（W3CDTF）
- 2020-01-22
- 並列タイトル等
- Atomic arrangement analysis of ferromagnetic semiconductor Ge0.6Mn0.4Te by photoelectron holography
- タイトル（掲載誌）
- SPring-8/SACLA利用研究成果集
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 8(1)
- 掲載巻
- 8(1)
- ISSN（掲載誌）
- 2187-6886
- ISSN-L（掲載誌）
- 2187-6886
- 本文の言語コード
- jpn
- DOI
- 10.18957/rr.8.1.5
- 国立国会図書館永続的識別子
- info:ndljp/pid/11670495
- コレクション（共通）
- コレクション（障害者向け資料：レベル1）
- コレクション（個別）
- 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他
- 収集根拠
- オンライン資料収集制度
- 受理日（W3CDTF）
- 2021-05-13T20:29:08+09:00
- 保存日（W3CDTF）
- 2020-03-25
- 記録形式（IMT）
- application/pdf
- オンライン閲覧公開範囲
- 国立国会図書館内限定公開
- デジタル化資料送信
- 図書館・個人送信対象外
- 遠隔複写可否（NDL）
- 可
- 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）
- info:ndljp/pid/11670493
- 連携機関・データベース
- 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
- 要約等
- 強磁性半導体 Ge<sub>1-<i>x</i></sub>Mn<sub><i>x</i></sub>Te の光電子ホログラム測定を行った。948 eV の励起光に対して、運動エネルギーが 900 eV の光電子放出強度の角度分布を測定して、Te 4<i>d </i>光電子回折パターン（光電子ホログラム）の取得に成功した。得られたホログラムより Te 周辺の原子像を再生したところ、Te のサイトに原子位置の揺らぎがあることが分かった。この結果は蛍光X線ホログラフィーの結果と一致する。
- DOI
- 10.18957/rr.8.1.5
- オンライン閲覧公開範囲
- インターネット公開
- 連携機関・データベース
- 科学技術振興機構 : J-STAGE
- 要約等
- 強磁性半導体 Ge<sub>1-<i>x</i></sub>Mn<sub><i>x</i></sub>Te の光電子ホログラム測定を行った。948 eV の励起光に対して、運動エネルギーが 900 eV の光電子放出強度の角度分布を測定して、Te 4<i>d </i>光電子回折パターン（光電子ホログラム）の取得に成功した。得られたホログラムより Te 周辺の原子像を再生したところ、Te のサイトに原子位置の揺らぎがあることが分かった。この結果は蛍光X線ホログラフィーの結果と一致する。
- DOI
- 10.18957/rr.8.1.5
- 連携機関・データベース
- 国立情報学研究所 : CiNii Research
- 提供元機関・データベース
- Japan Link Center雑誌記事索引データベースCiNii Articles
- 書誌ID（NDLBibID）
- 11670495
- NII論文ID
- 130007969623