光電子ホログラフィー法による強磁性半導体Ge0.6Mn0.4Teの原子構造解析
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Bibliographic Record
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- Material Type
- 記事
- Author/Editor
- 八方直久仙波伸也松下智裕
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2020-01-22
- Publication Date (W3CDTF)
- 2020-01-22
- Alternative Title
- Atomic arrangement analysis of ferromagnetic semiconductor Ge0.6Mn0.4Te by photoelectron holography
- Periodical title
- SPring-8/SACLA利用研究成果集
- No. or year of volume/issue
- 8(1)
- Volume
- 8(1)
- ISSN (Periodical Title)
- 2187-6886
- ISSN-L (Periodical Title)
- 2187-6886
- Text Language Code
- jpn
- DOI
- 10.18957/rr.8.1.5
- Persistent ID (NDL)
- info:ndljp/pid/11670495
- Collection
- Collection (Materials For Handicapped People:1)
- Collection (particular)
- 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他
- Acquisition Basis
- オンライン資料収集制度
- Date Accepted (W3CDTF)
- 2021-05-13T20:29:08+09:00
- Date Captured (W3CDTF)
- 2020-03-25
- Format (IMT)
- application/pdf
- Access Restrictions
- 国立国会図書館内限定公開
- Service for the Digitized Contents Transmission Service
- 図書館・個人送信対象外
- Availability of remote photoduplication service
- 可
- Periodical Title (URI)
- Periodical Title (Persistent ID (NDL))
- info:ndljp/pid/11670493
- Data Provider (Database)
- 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
- Summary, etc.
- 強磁性半導体 Ge<sub>1-<i>x</i></sub>Mn<sub><i>x</i></sub>Te の光電子ホログラム測定を行った。948 eV の励起光に対して、運動エネルギーが 900 eV の光電子放出強度の角度分布を測定して、Te 4<i>d </i>光電子回折パターン(光電子ホログラム)の取得に成功した。得られたホログラムより Te 周辺の原子像を再生したところ、Te のサイトに原子位置の揺らぎがあることが分かった。この結果は蛍光X線ホログラフィーの結果と一致する。
- DOI
- 10.18957/rr.8.1.5
- Access Restrictions
- インターネット公開
- Data Provider (Database)
- 科学技術振興機構 : J-STAGE
- Summary, etc.
- 強磁性半導体 Ge<sub>1-<i>x</i></sub>Mn<sub><i>x</i></sub>Te の光電子ホログラム測定を行った。948 eV の励起光に対して、運動エネルギーが 900 eV の光電子放出強度の角度分布を測定して、Te 4<i>d </i>光電子回折パターン(光電子ホログラム)の取得に成功した。得られたホログラムより Te 周辺の原子像を再生したところ、Te のサイトに原子位置の揺らぎがあることが分かった。この結果は蛍光X線ホログラフィーの結果と一致する。
- DOI
- 10.18957/rr.8.1.5
- Related Material (URI)
- Data Provider (Database)
- 国立情報学研究所 : CiNii Research
- Original Data Provider (Database)
- Japan Link Center雑誌記事索引データベースCiNii Articles
- Bibliographic ID (NDL)
- 11670495
- NAID
- 130007969623