Study of Muon-induced Single Event Upsets in SRAMs and their Fundamental Physical Process

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Study of Muon-induced Single Event Upsets in SRAMs and their Fundamental Physical Process

国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/11692477

資料種別: 博士論文

著者: 真鍋, 征也

出版者: -

出版年: 2021-03-24

資料形態: デジタル

ページ数・大きさ等: -

授与大学名・学位: 九州大学,博士（工学）

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デジタル

資料種別: 博士論文
タイトル: Study of Muon-induced Single Event Upsets in SRAMs and their Fundamental Physical Process
著者・編者: 真鍋, 征也
出版年月日等: 2021-03-24
出版年（W3CDTF）: 2021-03-24
並列タイトル等: SRAM素子におけるミューオン起因シングルイベントアップセットとその素過程物理現象に関する研究
寄与者: 渡辺, 幸信
榊, 泰直
吉武, 剛
久保, 謙哉
授与機関名: 九州大学
授与年月日: 2021-03-24
授与年月日（W3CDTF）: 2021-03-24
報告番号: 甲第15619号
学位: 博士（工学）
博論授与番号: 甲第15619号
本文の言語コード: eng
国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/11692477
https://dl.ndl.go.jp/pid/11692477
コレクション（共通）: 障害者向け資料
コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
収集根拠: 博士論文（自動収集）
受理日（W3CDTF）: 2021-07-05T22:24:43+09:00
作成日（W3CDTF）: 2021-05-20
記録形式（IMT）: application/pdf
オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
遠隔複写可否（NDL）: 可
掲載誌（URI）: http://hdl.handle.net/2324/4475179
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp