博士論文
書影書影書影

半導体デバイスの開封前に適用可能な超音波加熱を利用した故障箇所絞込み技術

博士論文を表すアイコン
表紙は所蔵館によって異なることがあります ヘルプページへのリンク

半導体デバイスの開封前に適用可能な超音波加熱を利用した故障箇所絞込み技術

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/12219003
資料種別
博士論文
著者
松井 , 拓人
出版者
-
出版年
2022-03-23
資料形態
デジタル
ページ数・大きさ等
-
授与大学名・学位
豊橋技術科学大学,博士(工学)
すべて見る

国立国会図書館での利用に関する注記

本資料は、掲載誌(URI)等のリンク先にある学位授与機関のWebサイトやCiNii Dissertations外部サイトから、本文を自由に閲覧できる場合があります。

資料に関する注記

一般注記:

source:https://www.tut.ac.jp/university/docs/abstk884.pdf

書店で探す

障害者向け資料で読む

書誌情報

この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。

デジタル

資料種別
博士論文
著者・編者
松井 , 拓人
著者標目
出版年月日等
2022-03-23
出版年(W3CDTF)
2022-03-23
並列タイトル等
Fault Location Technique Using Ultrasonic Heating Applicable to Semiconductor Devices prior to Decapsulation
授与機関名
豊橋技術科学大学
授与年月日
2022-03-23
授与年月日(W3CDTF)
2022-03-23