半導体デバイスの開封前に適用可能な超音波加熱を利用した故障箇所絞込み技術

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/12219003

Material type: 博士論文

Author: 松井　, 拓人

Publisher: -

Publication date: 2022-03-23

Material Format: Digital

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Name of awarding university/degree: 豊橋技術科学大学,博士(工学)

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Digital

Material Type: 博士論文
Title: 半導体デバイスの開封前に適用可能な超音波加熱を利用した故障箇所絞込み技術
Author/Editor: 松井　, 拓人
Author Heading: 松井　, 拓人
Publication Date: 2022-03-23
Publication Date (W3CDTF): 2022-03-23
Alternative Title: Fault Location Technique Using Ultrasonic Heating Applicable to Semiconductor Devices prior to Decapsulation
Degree grantor/type: 豊橋技術科学大学
Date Granted: 2022-03-23
Date Granted (W3CDTF): 2022-03-23
Dissertation Number: 甲第884号
Degree Type: 博士(工学)
Conferring No. (Dissertation): 甲第884号
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): source:https://www.tut.ac.jp/university/docs/abstk884.pdf
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/12219003
https://dl.ndl.go.jp/pid/12219003
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
Acquisition Basis: 博士論文（自動収集）
Date Accepted (W3CDTF): 2022-04-04T15:10:33+09:00
Date Created (W3CDTF): 2022-03-29
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Original Material (URI): https://www.tut.ac.jp/university/docs/abstk884.pdf
Periodical Title (URI): http://id.nii.ac.jp/1117/00002196/
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp