Monitoring Function for Gate Oxide Degradation to Improve Reliability of SiC MOSFETs Implemented in Power Conversion Circuits

国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/12361020

資料種別: 博士論文

著者: 林, 真一郎

出版者: -

出版年: 2022-03-25

資料形態: デジタル

ページ数・大きさ等: -

授与大学名・学位: 東京都立大学,博士（工学）

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書誌情報

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デジタル

資料種別: 博士論文
タイトル: Monitoring Function for Gate Oxide Degradation to Improve Reliability of SiC MOSFETs Implemented in Power Conversion Circuits
著者・編者: 林, 真一郎
著者標目: 林, 真一郎
出版年月日等: 2022-03-25
出版年（W3CDTF）: 2022-03-25
並列タイトル等: 電力変換回路に実装されたSiC MOSFETの信頼性向上を目的としたゲート酸化膜劣化監視機能
授与機関名: 東京都立大学
授与年月日: 2022-03-25
授与年月日（W3CDTF）: 2022-03-25
報告番号: 甲第1138号
学位: 博士（工学）
博論授与番号: 甲第1138号
本文の言語コード: eng
NDLC: UT51
対象利用者: 一般
一般注記: 開始ページ : 1
終了ページ : 138
国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/12361020
https://dl.ndl.go.jp/pid/12361020
コレクション（共通）: 障害者向け資料
コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
収集根拠: 博士論文（自動収集）
受理日（W3CDTF）: 2022-11-07T16:56:35+09:00
作成日（W3CDTF）: 2022-10-14
記録形式（IMT）: PDF
オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
遠隔複写可否（NDL）: 可
掲載誌（URI）: http://hdl.handle.net/10748/00013039
連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp