Monitoring Function for Gate Oxide Degradation to Improve Reliability of SiC MOSFETs Implemented in Power Conversion Circuits

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/12361020

Material type: 博士論文

Author: 林, 真一郎

Publisher: -

Publication date: 2022-03-25

Material Format: Digital

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Name of awarding university/degree: 東京都立大学,博士（工学）

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Digital

Material Type: 博士論文
Title: Monitoring Function for Gate Oxide Degradation to Improve Reliability of SiC MOSFETs Implemented in Power Conversion Circuits
Author/Editor: 林, 真一郎
Author Heading: 林, 真一郎
Publication Date: 2022-03-25
Publication Date (W3CDTF): 2022-03-25
Alternative Title: 電力変換回路に実装されたSiC MOSFETの信頼性向上を目的としたゲート酸化膜劣化監視機能
Degree grantor/type: 東京都立大学
Date Granted: 2022-03-25
Date Granted (W3CDTF): 2022-03-25
Dissertation Number: 甲第1138号
Degree Type: 博士（工学）
Conferring No. (Dissertation): 甲第1138号
Text Language Code: eng
NDLC: UT51
Target Audience: 一般
Note (General): 開始ページ : 1
終了ページ : 138
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/12361020
https://dl.ndl.go.jp/pid/12361020
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文
https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
Acquisition Basis: 博士論文（自動収集）
Date Accepted (W3CDTF): 2022-11-07T16:56:35+09:00
Date Created (W3CDTF): 2022-10-14
Format (IMT): PDF
Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
Availability of remote photoduplication service: 可
Periodical Title (URI): http://hdl.handle.net/10748/00013039
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp