A Study on Characterization of One-dimensional Semiconductor Nanomaterials by Microwave Atomic Force Microscopy

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: A Study on Characterization of One-dimensional Semiconductor Nanomaterials by Microwave Atomic Force Microscopy
• 著者・編者: 趙, 珉吉
• 著者標目: 趙, 珉吉
• 出版年月日等: 2023-03-27
• 出版年（W3CDTF）: 2023-03-27
• 並列タイトル等: マイクロ波原子間力顕微鏡による一次元半導体ナノ材料の評価に関する研究
• 授与機関名: 名古屋大学
• 授与年月日: 2023-03-27
• 授与年月日（W3CDTF）: 2023-03-27
• 報告番号: 甲第14540号
• 学位: 博士(工学)
• 本文の言語コード: eng
• 著者別名: Zhao, Minji
• 対象利用者: 一般
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/12969277; https://dl.ndl.go.jp/pid/12969277
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 博士論文; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00014
• 収集根拠: 博士論文（自動収集）
• 受理日（W3CDTF）: 2023-08-04T23:03:29+09:00
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: 国立国会図書館内限定公開
• デジタル化資料送信: 図書館・個人送信対象外
• 遠隔複写可否（NDL）: 可
• 掲載誌（URI）: http://hdl.handle.net/2237/0002005788; https://nagoya.repo.nii.ac.jp/records/2005788
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp