微細CMOSのホットキャリア輸送と劣化に関するデバイスモデリングの研究

• 資料種別: 博士論文
• タイトル: 微細CMOSのホットキャリア輸送と劣化に関するデバイスモデリングの研究
• タイトルよみ: ビサイ CMOS ノ ホット キャリア ユソウ ト レッカ ニ カンスル デバイス モデリング ノ ケンキュウ
• 著者・編者: 廣木彰 [著]
• 著者標目: 廣木, 彰 ヒロキ, アキラ
• 出版事項: [廣木彰]
• 出版年月日等: 2000
• 出版年（W3CDTF）: 2000
• 数量: 1冊
• 授与機関名: 大阪大学
• 授与年月日: 平成12年11月27日
• 授与年月日（W3CDTF）: 2000
• 報告番号: 乙第8124号
• 学位: 博士 (工学)
• 学位論文注記: 博士論文
• 出版地（国名コード）: JP
• 本文の言語コード: jpn
• NDLC: UT51
• 一般注記: 博士論文
• 所蔵機関: 国立国会図書館
• 請求記号: UT51-2001-G503
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館蔵書; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• 書誌ID（NDLBibID）: 000000402354; http://id.ndl.go.jp/bib/000000402354
• 整理区分コード: 213

目次

目次

第1章 序論

第1章の参考文献

第2章 ホットキャリア劣化モデル

第1節 はじめに