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微細CMOSのホットキャリア輸送と劣化に関するデバイスモデリングの研究

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微細CMOSのホットキャリア輸送と劣化に関するデバイスモデリングの研究

国立国会図書館請求記号
UT51-2001-G503
国立国会図書館書誌ID
000000402354
国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/3184278
資料種別
博士論文
著者
廣木彰 [著]
出版者
[廣木彰]
出版年
2000
資料形態
紙・デジタル
ページ数・大きさ等
1冊
授与大学名・学位
大阪大学,博士 (工学)
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目次

  • 目次

    p1

  • 第1章 序論

    p1

  • 第1章の参考文献

    p6

  • 第2章 ホットキャリア劣化モデル

    p9

  • 第1節 はじめに

    p9

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書誌情報

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デジタル

資料種別
博士論文
タイトルよみ
ビサイ CMOS ノ ホット キャリア ユソウ ト レッカ ニ カンスル デバイス モデリング ノ ケンキュウ
著者・編者
廣木彰 [著]
著者標目
廣木, 彰 ヒロキ, アキラ
出版事項
出版年月日等
2000
出版年(W3CDTF)
2000
数量
1冊
授与機関名
大阪大学