微細CMOSのホットキャリア輸送と劣化に関するデバイスモデリングの研究
Available with Digitized Contents Transmission Service
Find on the publisher's website
国立国会図書館デジタルコレクション
Available for viewing via the Digitized Contents Transmission Service for Individuals to official registered users of the NDL, who resides in Japan.
Search by Bookstore
Read this material in an accessible format.
Table of Contents
目次
p1
第1章 序論
p1
第1章の参考文献
p6
第2章 ホットキャリア劣化モデル
p9
第1節 はじめに
p9
Search by Bookstore
Read in Disability Resources
- Mina Search
- プレーンテキスト
Registered users of Mina Search can download or stream this content.
Bibliographic Record
You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.
- Material Type
- 博士論文
- Title Transcription
- ビサイ CMOS ノ ホット キャリア ユソウ ト レッカ ニ カンスル デバイス モデリング ノ ケンキュウ
- Author/Editor
- 廣木彰 [著]
- Author Heading
- 廣木, 彰 ヒロキ, アキラ
- Publication, Distribution, etc.
- Publication Date
- 2000
- Publication Date (W3CDTF)
- 2000
- Extent
- 1冊
- Degree grantor/type
- 大阪大学