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電子書籍・電子雑誌表面科学 : 日本表面科学会誌
巻号13 (8)
オージェ電子分光法に...

オージェ電子分光法によるInP/GaInAsP多層膜の深さ方向分析 : Zalar回転および試料冷却の効果について

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オージェ電子分光法によるInP/GaInAsP多層膜の深さ方向分析 : Zalar回転および試料冷却の効果について

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/8325115
資料種別
記事
著者
荻原俊弥ほか
出版者
日本表面科学会
出版年
1992
資料形態
デジタル
掲載誌名
表面科学 : 日本表面科学会誌 13(8)
掲載ページ
-
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資料に関する注記

一般注記:

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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
荻原俊弥
田沼繁夫
長沢勇二
出版年月日等
1992
出版年(W3CDTF)
1992
並列タイトル等
Depth profiling analysis of InP/GaInAsP multilayers by Auger electron spectroscopy. : effects of Zalar rotation and liquid nitrogen cold stage
タイトル(掲載誌)
表面科学 : 日本表面科学会誌
巻号年月日等(掲載誌)
13(8)
掲載巻
13(8)