オージェ電子分光法によるInP/GaInAsP多層膜の深さ方向分析 : Zalar回転および試料冷却の効果について

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/8325115

Material type: 記事

Author: 荻原俊弥ほか

Publisher: 日本表面科学会

Publication date: 1992

Material Format: Digital

Journal name: 表面科学 : 日本表面科学会誌 13(8)

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Note (General)：: ウェブページ記載の著者（誤記）：萩原俊弥

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Digital

Material Type: 記事
Title: オージェ電子分光法によるInP/GaInAsP多層膜の深さ方向分析 : Zalar回転および試料冷却の効果について
Author/Editor: 荻原俊弥
田沼繁夫
長沢勇二
Publication, Distribution, etc.: 日本 : 日本表面科学会
Publication Date: 1992
Publication Date (W3CDTF): 1992
Alternative Title: Depth profiling analysis of InP/GaInAsP multilayers by Auger electron spectroscopy. : effects of Zalar rotation and liquid nitrogen cold stage
Periodical title: 表面科学 : 日本表面科学会誌
No. or year of volume/issue: 13(8)
Volume: 13(8)
Text Language Code: jpn
Note (General): ウェブページ記載の著者（誤記）：萩原俊弥
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/8325115
https://dl.ndl.go.jp/pid/8325115
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
Acquisition Basis: インターネット資料収集保存事業（WARP）
Date Accepted (W3CDTF): 2013-10-19T02:33:07+09:00
Date Captured (W3CDTF): 2008-01-26
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Availability of remote photoduplication service: 不可
Periodical Title (URI): https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/274949/www-surface.phys.s.u-tokyo.ac.jp/sssj/Vol13/Vol13_08.htm
Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/8325110
https://dl.ndl.go.jp/pid/8325110
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
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