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電子書籍・電子雑誌表面科学 : 日本表面科学会誌
巻号24 (12)
反射率差分光による表...

反射率差分光による表面/界面の評価と制御 : Si酸化・InAsぬれ層の最近のトピック

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反射率差分光による表面/界面の評価と制御 : Si酸化・InAsぬれ層の最近のトピック

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/8327440
資料種別
記事
著者
中山隆史
出版者
日本表面科学会
出版年
2003-12
資料形態
デジタル
掲載誌名
表面科学 : 日本表面科学会誌 24(12)
掲載ページ
-
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
中山隆史
出版年月日等
2003-12
出版年(W3CDTF)
2003-12
並列タイトル等
Characterization and control of surfaces and interfaces by reflectance difference spectroscopy : recent topics of Si oxidation and InAs wetting layer
タイトル(掲載誌)
表面科学 : 日本表面科学会誌
巻号年月日等(掲載誌)
24(12)
掲載巻
24(12)