軟X線吸収発光分光法によるSiO2/Si界面電子状態のサイト選択的観測
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国立国会図書館デジタルコレクション
書誌情報
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- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 山下良之山本達向井孝三
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2005-09
- 出版年（W3CDTF）
- 2005-09
- 並列タイトル等
- Site-specific observation of the valence electronic structure at SiO2/Si interface by means of soft X-ray absorption and emission spectroscopy
- タイトル（掲載誌）
- 表面科学 : 日本表面科学会誌
- 巻号年月日等（掲載誌）
- 26(9)
- 掲載巻
- 26(9)