軟X線吸収発光分光法によるSiO2/Si界面電子状態のサイト選択的観測

• 資料種別: 記事
• タイトル: 軟X線吸収発光分光法によるSiO2/Si界面電子状態のサイト選択的観測
• 著者・編者: 山下良之; 山本達; 向井孝三
• 出版事項: 日本 : 日本表面科学会
• 出版年月日等: 2005-09
• 出版年（W3CDTF）: 2005-09
• 並列タイトル等: Site-specific observation of the valence electronic structure at SiO2/Si interface by means of soft X-ray absorption and emission spectroscopy
• タイトル（掲載誌）: 表面科学 : 日本表面科学会誌
• 巻号年月日等（掲載誌）: 26(9)
• 掲載巻: 26(9)
• 本文の言語コード: jpn
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/8327600; https://dl.ndl.go.jp/pid/8327600
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• 収集根拠: インターネット資料収集保存事業（WARP）
• 受理日（W3CDTF）: 2013-10-19T02:33:07+09:00
• 保存日（W3CDTF）: 2008-01-26
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 掲載誌（URI）: https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/274949/www-surface.phys.s.u-tokyo.ac.jp/sssj/Vol26/26-09/26-09.htm
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/8327597; https://dl.ndl.go.jp/pid/8327597
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp