次世代デバイスの歩留り向上に寄与するCD-SEM「CG4000」と設計データ応用システム「DesignGauge」
インターネットで読む
すぐに読む
国立国会図書館デジタルコレクション
書誌情報
この資料の詳細や典拠(同じ主題の資料を指すキーワード、著者名)等を確認できます。
- 資料種別
- 記事
- 著者・編者
- 川田勲長谷川昇雄日比野大輔
- 出版事項
- 出版年月日等
- 2007-04
- 出版年(W3CDTF)
- 2007-04
- 並列タイトル等
- Critical dimension-scanning electron microscope “CG4000” and DesignGauge system for utilizing design data for enhancing yield of next-generation devices
- タイトル(掲載誌)
- 日立評論
- 巻号年月日等(掲載誌)
- 89(4)
- 掲載巻
- 89(4)