FIB(集束イオンビーム)を利用した材料表層のピンポイント高分解能解析技術

• 資料種別: 記事
• タイトル: FIB(集束イオンビーム)を利用した材料表層のピンポイント高分解能解析技術
• 著者・編者: 河野崇史; 濵田悦男; 佐藤馨
• 出版事項: 日本 : JFEスチール株式会社
• 出版年月日等: 2006-08
• 出版年（W3CDTF）: 2006-08
• 並列タイトル等: Pinpoint high spatial resolution analysis technique on material surfaces using focused ion beam technique
• タイトル（掲載誌）: JFE技報
• 巻号年月日等（掲載誌）: (13)
• 掲載巻: (13)
• ISSN（掲載誌）: 2185-4327
• ISSN-L（掲載誌）: 1348-0669
• 本文の言語コード: jpn
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/8678370; https://dl.ndl.go.jp/pid/8678370
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00035
• 収集根拠: インターネット資料収集保存事業（WARP）
• 受理日（W3CDTF）: 2014-06-12T04:11:14+09:00
• 保存日（W3CDTF）: 2010-03-22
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 掲載誌（URI）: https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/998132/www.jfe-steel.co.jp/research/giho/013/05.html
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/8678365; https://dl.ndl.go.jp/pid/8678365
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp