FIB(集束イオンビーム)を利用した材料表層のピンポイント高分解能解析技術

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/8678370

Material type: 記事

Author: 河野崇史ほか

Publisher: JFEスチール株式会社

Publication date: 2006-08

Material Format: Digital

Journal name: JFE技報 (13)

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Bibliographic Record

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Digital

Material Type: 記事
Title: FIB(集束イオンビーム)を利用した材料表層のピンポイント高分解能解析技術
Author/Editor: 河野崇史
濵田悦男
佐藤馨
Publication, Distribution, etc.: 日本 : JFEスチール株式会社
Publication Date: 2006-08
Publication Date (W3CDTF): 2006-08
Alternative Title: Pinpoint high spatial resolution analysis technique on material surfaces using focused ion beam technique
Periodical title: JFE技報
No. or year of volume/issue: (13)
Volume: (13)
ISSN (Periodical Title): 2185-4327
ISSN-L (Periodical Title): 1348-0669
Text Language Code: jpn
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/8678370
https://dl.ndl.go.jp/pid/8678370
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > その他
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00035
Acquisition Basis: インターネット資料収集保存事業（WARP）
Date Accepted (W3CDTF): 2014-06-12T04:11:14+09:00
Date Captured (W3CDTF): 2010-03-22
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Availability of remote photoduplication service: 不可
Periodical Title (URI): https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/998132/www.jfe-steel.co.jp/research/giho/013/05.html
Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/8678365
https://dl.ndl.go.jp/pid/8678365
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp