レーザースクイド顕微鏡による半導体の評価

• 資料種別: 記事
• タイトル: レーザースクイド顕微鏡による半導体の評価
• 著者・編者: 大坊真洋; 泉田福典; 小高正
• 出版事項: 日本 : 岩手県
• 出版年月日等: 2001
• 出版年（W3CDTF）: 2001
• 並列タイトル等: Evaluation of semiconductors using laser SQUID microscope
• タイトル（掲載誌）: 岩手県工業技術センター研究報告
• 巻号年月日等（掲載誌）: (8)
• 掲載巻: (8)
• 本文の言語コード: jpn
• 国立国会図書館永続的識別子: info:ndljp/pid/8895966; https://dl.ndl.go.jp/pid/8895966
• コレクション（共通）: 障害者向け資料
• コレクション（障害者向け資料：レベル1）: テキストデータ
• コレクション（個別）: 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 地方公共団体 > 都道府県 > 岩手県; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00049
• 収集根拠: インターネット資料収集保存事業（WARP）
• 受理日（W3CDTF）: 2015-01-08T20:31:20+09:00
• 保存日（W3CDTF）: 2008-12-22
• 記録形式（IMT）: application/pdf
• オンライン閲覧公開範囲: インターネット公開
• 遠隔複写可否（NDL）: 不可
• 掲載誌（URI）: https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/233157/www.pref.iwate.jp/~kiri/infor/theme/2000/result12.htm
• 掲載誌（国立国会図書館永続的識別子）: info:ndljp/pid/8895962; https://dl.ndl.go.jp/pid/8895962
• 連携機関・データベース: 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp