レーザースクイド顕微鏡による半導体の評価

Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/8895966

Material type: 記事

Author: 大坊真洋ほか

Publisher: 岩手県

Publication date: 2001

Material Format: Digital

Journal name: 岩手県工業技術センター研究報告 (8)

Publication Page: -

View Details

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Digital

Material Type: 記事
Title: レーザースクイド顕微鏡による半導体の評価
Author/Editor: 大坊真洋
泉田福典
小高正
Publication, Distribution, etc.: 日本 : 岩手県
Publication Date: 2001
Publication Date (W3CDTF): 2001
Alternative Title: Evaluation of semiconductors using laser SQUID microscope
Periodical title: 岩手県工業技術センター研究報告
No. or year of volume/issue: (8)
Volume: (8)
Text Language Code: jpn
Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/8895966
https://dl.ndl.go.jp/pid/8895966
Collection: 障害者向け資料
Collection (Materials For Handicapped People:1): テキストデータ
Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 地方公共団体 > 都道府県 > 岩手県
https://dl.ndl.go.jp/collections/B00049
Acquisition Basis: インターネット資料収集保存事業（WARP）
Date Accepted (W3CDTF): 2015-01-08T20:31:20+09:00
Date Captured (W3CDTF): 2008-12-22
Format (IMT): application/pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Availability of remote photoduplication service: 不可
Periodical Title (URI): https://warp.da.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/233157/www.pref.iwate.jp/~kiri/infor/theme/2000/result12.htm
Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/8895962
https://dl.ndl.go.jp/pid/8895962
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション
https://dl.ndl.go.jp

See Less