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巻号(15)
表面プラズモンを利用...

表面プラズモンを利用した局所ラマン分光による半導体表面の微量分析

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表面プラズモンを利用した局所ラマン分光による半導体表面の微量分析

国立国会図書館永続的識別子
info:ndljp/pid/8896235
資料種別
記事
著者
目黒和幸ほか
出版者
岩手県
出版年
2008-08-15
資料形態
デジタル
掲載誌名
岩手県工業技術センター研究報告 (15)
掲載ページ
-
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書誌情報

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デジタル

資料種別
記事
著者・編者
目黒和幸
小川力
園田哲也
出版事項
出版年月日等
2008-08-15
出版年(W3CDTF)
2008-08-15
並列タイトル等
Qualitative analysis of nano-particles on a semiconductor surface by Raman microspectroscopy using surface plasmon resonance
タイトル(掲載誌)
岩手県工業技術センター研究報告
巻号年月日等(掲載誌)
(15)
掲載巻
(15)