Jump to main content
Volume number(15)
表面プラズモンを利用...

表面プラズモンを利用した局所ラマン分光による半導体表面の微量分析

Icons representing 記事
The cover of this title could differ from library to library. Link to Help Page

表面プラズモンを利用した局所ラマン分光による半導体表面の微量分析

Persistent ID (NDL)
info:ndljp/pid/8896235
Material type
記事
Author
目黒和幸ほか
Publisher
岩手県
Publication date
2008-08-15
Material Format
Digital
Journal name
岩手県工業技術センター研究報告 (15)
Publication Page
-
View All

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Digital

Material Type
記事
Author/Editor
目黒和幸
小川力
園田哲也
Publication, Distribution, etc.
Publication Date
2008-08-15
Publication Date (W3CDTF)
2008-08-15
Alternative Title
Qualitative analysis of nano-particles on a semiconductor surface by Raman microspectroscopy using surface plasmon resonance
Periodical title
岩手県工業技術センター研究報告
No. or year of volume/issue
(15)
Volume
(15)