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APPLICATION OF SECONDARY-ION MASS SPECTROMETRY TO EXAMINATION OF OXIDES ON LWR SPECIMENS. (CEGB ; CEGB-TPRD-B-0856-R86; PWR-CWG-P-86-378)

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APPLICATION OF SECONDARY-ION MASS SPECTROMETRY TO EXAMINATION OF OXIDES ON LWR SPECIMENS.

(CEGB ; CEGB-TPRD-B-0856-R86; PWR-CWG-P-86-378)

資料種別
図書
著者
PICK, M.E.(et al.)
出版者
-
出版年
1986.
資料形態
ページ数・大きさ等
52
NDC
-
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資料種別
図書
著者・編者
PICK, M.E.(et al.)
著者標目
出版年月日等
1986.
出版年(W3CDTF)
1986
数量
52
対象利用者
一般
連携機関・データベース
日本原子力研究開発機構 : 日本原子力研究開発機構所蔵目録データベース