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書誌情報
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- 資料種別
- 図書
- タイトル
- 並列タイトル等
- R basic selectionRealize basic selection
- 出版地(国名コード)
- ja
- 対象利用者
- 一般
- 一般注記
- Realize basic selectionシリーズはすでに絶版になった書籍のうち、特に人気の高い商品を厳選の上、安価にて提供することを目的としたもの
- 関連情報
- 半導体プロセスにおけるチャージング・ダメージカスタムLSI応用設計ハンドブック半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として薄膜の力学的特性評価技術 : トライボロジー・内部応力・密着性高周波測定技術の基礎 : Sパラメータ入門オゾン利用の理論と実際黒鉛層間化合物アンテナの基礎理論と設計法半導体製造における安全対策・管理ハンドブックフッ素化学が拓くプロセスイノベーション高周波測定技術の基礎 : Sパラメータ入門リチウムイオン二次電池のための負極用炭素材料最新半導体プロセス・デバイスシミュレーション技術半導体デバイス工程評価技術 : ライフタイム、DLTS評価を中心として
- 連携機関・データベース
- 国立情報学研究所 : CiNii Research