Defects, recognition, imaging and physics in semiconductors, 1999 : proceedings of the eighth International Conference on Defects, Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, Narita, Japan, September 15-18, 1999

Defects, recognition, imaging and physics in semiconductors, 1999 : proceedings of the eighth International Conference on Defects, Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, Narita, Japan, September 15-18, 1999

資料種別: 図書

著者: edited by T. Ogawa, M. Tajima

出版者: North-Holland : Elsevier

出版年: c2000

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 27 cm

NDC: -

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一般注記：: "Special issue of Journal of crystal growth volume 210/1-3"--Back coverIncludes bibliographical references

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資料種別: 図書
タイトル: Defects, recognition, imaging and physics in semiconductors, 1999 : proceedings of the eighth International Conference on Defects, Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors, Narita, Japan, September 15-18, 1999
著者・編者: edited by T. Ogawa, M. Tajima
著者標目: International Conference on Defects, Recognition, Imaging and Physics in Semiconductors
小川, 智哉オガワ, トモヤ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00594288
田島, 道夫タジマ, ミチオ
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0884048X
出版事項: North-Holland : Elsevier
出版年月日等: c2000
出版年（W3CDTF）: 2000
大きさ: 27 cm
出版地（国名コード）: ne
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: "Special issue of Journal of crystal growth volume 210/1-3"--Back cover
Includes bibliographical references
関連情報: Journal of crystal growth
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000796829032576
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA54472222#entity
掲載誌: Journal of crystal growth
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000796829032576
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA54472222 : BA54472222