ITC : International Test Conference : Meeting the tests of time, August 29-31, 1989, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC

資料種別: 図書

著者: Sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section

出版者: IEEE Computer Society Press

出版年: 1989

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 28 cm

NDC: -

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一般注記：: "IEEE Computer Society Order Number 1962""IEEE Catalog Number 89CH2742-5""SAN 264-620X"...

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資料種別: 図書
ISBN: 0818689625
タイトル: ITC : International Test Conference : Meeting the tests of time, August 29-31, 1989, Sheraton Washington Hotel, Washington, DC
著者・編者: Sponsored by the IEEE Computer Society Test Technology Technical Committee and IEEE Philadelphia Section
著者標目: International Test Conference
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0261156X
IEEE Computer Society. Test Technology Technical Committee
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03323957
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02648490
Oberly, Raymon
出版事項: IEEE Computer Society Press
Institute of Electrical and Electronics Engineers, c1989
出版年（W3CDTF）: 1989
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 1989 IEEE International Test Conference
1962 89CH27425 264620X
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE Computer Society Order Number 1962"
"IEEE Catalog Number 89CH2742-5"
"SAN 264-620X"
Includes bibliographies and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA10142876#entity
https://lccn.loc.gov/89083677
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA10142876 : BA10142876
LC control number: 89083677
https://lccn.loc.gov/89083677