Proceedings : International Test Conference 2003

著者: [sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]

資料に関する注記

一般注記：: IEEE Catalog Number: 03CH37494Includes bibliographical references and index子書誌あり

書店で探す

国立国会図書館以外の全国の図書館の所蔵状況を表示します。

所蔵のある図書館から取寄せることが可能かなど、資料の利用方法は、ご自身が利用されるお近くの図書館へご相談ください

その他

CiNii Research
検索サービス
紙
連携先のサイトで、CiNii Researchが連携している機関・データベースの所蔵状況を確認できます。
この本の所蔵を確認

この資料の詳細や典拠（同じ主題の資料を指すキーワード、著者名）等を確認できます。

資料種別: 図書
ISBN: 0780381068
タイトル: Proceedings : International Test Conference 2003
著者・編者: [sponsored by IEEE Computer Society, Test Technology Technical Council and IEEE Philadelphia Section]
著者標目: International Test Conference
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0261156X
IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1250352X
Institute of Electrical and Electronics Engineers. Philadelphia Section
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02648490
出版事項: International Test Conference
出版年月日等: c2003
出版年（W3CDTF）: 2003
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: International Test Conference 2003 : Proceedings : September 30-October 2, 2003, Charlotte Convention Center, Charlotte, NC, USA
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: IEEE Catalog Number: 03CH37494
Includes bibliographical references and index
子書誌あり
関連情報: Board and system test track
https://cir.nii.ac.jp/crid/1130000795434131456
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA6540053X#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA6540053X : BA6540053X