2003 GaAs Reliability Workshop : proceedings : November 9, 2003, San Diego, California : softbound

著者: sponsored by JEDEC JC-14.7 Committee on GaAs Reliability and Quality Standards ; with technical co-sponsorship of the Electron Device Society of the Institute of Electrical and Electronics Engineers

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一般注記：: "IEEE catalog number 03TH8723"--T.p. versoIncludes bibliographical references

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資料種別: 図書
ISBN: 0790801043
タイトル: 2003 GaAs Reliability Workshop : proceedings : November 9, 2003, San Diego, California
巻次・部編番号: : softbound
著者・編者: sponsored by JEDEC JC-14.7 Committee on GaAs Reliability and Quality Standards ; with technical co-sponsorship of the Electron Device Society of the Institute of Electrical and Electronics Engineers
著者標目: GaAs Reliability Workshop
JEDEC JC-14.7 Committee on GaAs Reliability and Quality Standards
IEEE Electron Devices Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA01257512
出版事項: JEDEC
出版年月日等: [2003]
出版年（W3CDTF）: 2003
大きさ: 28 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE catalog number 03TH8723"--T.p. verso
Includes bibliographical references
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA7156583X#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA7156583X : BA7156583X