Electron microscopy 1990 : proceedings of the 12th International Congress for Electron Microscopy held in Seattle, Washington, USA, 12-18 August 1990 : 48th annual meeting of the Electron Microscopy Society of America and 25th annual meeting of the Microbeam Analysis Society

Electron microscopy 1990 : proceedings of the 12th International Congress for Electron Microscopy held in Seattle, Washington, USA, 12-18 August 1990 : 48th annual meeting of the Electron Microscopy Society of America and 25th annual meeting of the Microbeam Analysis Society

資料種別: 図書

著者: editors. L. D. Peachey, D. B. Williams

出版者: San Francisco Press

出版年: c1990

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 26 cm

NDC: -

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資料種別: 図書
タイトル: Electron microscopy 1990 : proceedings of the 12th International Congress for Electron Microscopy held in Seattle, Washington, USA, 12-18 August 1990 : 48th annual meeting of the Electron Microscopy Society of America and 25th annual meeting of the Microbeam Analysis Society
著者・編者: editors. L. D. Peachey, D. B. Williams
著者標目: International Congress on Electron Microscopy
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0164983X
Peachey, L. D.
https://ci.nii.ac.jp/author/DA05681823
Williams, David B. (David Bernard)
https://ci.nii.ac.jp/author/DA0078254X
出版事項: San Francisco Press
出版年月日等: c1990
出版年（W3CDTF）: 1990
大きさ: 26 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA11818868#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA11818868 : BA11818868