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高感度光電子収率分光による極めて薄い酸化膜 : シリコン界面の欠陥密度定量評価

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高感度光電子収率分光による極めて薄い酸化膜 : シリコン界面の欠陥密度定量評価

資料種別
図書
著者
研究代表者 宮崎誠一
出版者
[宮崎誠一]
出版年
1998.3
資料形態
ページ数・大きさ等
30cm
NDC
-
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資料に関する注記

一般注記:

[課題番号] : 08455147研究代表者: 宮崎誠一(広島大学工学部助教授)研究分担者: 廣瀬全孝...

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資料種別
図書
タイトルよみ
コウカンド コウデンシ シュウリツ ブンコウ ニヨル キワメテ ウスイ サンカマク : シリコン カイメン ノ ケッカン ミツド テイリョウ ヒョウカ
著者・編者
研究代表者 宮崎誠一
著者標目
宮崎, 誠一 ミヤザキ, セイイチ
出版事項
出版年月日等
1998.3
出版年(W3CDTF)
1998
大きさ
30cm
並列タイトル等
高感度光電子収率分光による極めて薄い酸化膜シリコン界面の欠陥密度定量評価