2000 GaAs Reliability Workshop Proceedings, November 5, 2000, Seattle, Washington :softbound

著者: sponsored by JEDEC JC-14.7 Committee on GaAs Reliability and Quality Standards ; with Technical Co-Sponsorship of the Electron Device Society of the Institute of Electrical and Electronics Engineers

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一般注記：: "IEEE catalog number 00TH8513"--T.P. versoIncludes bibliographical references

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資料種別: 図書
ISBN: 0790801027
タイトル: 2000 GaAs Reliability Workshop Proceedings, November 5, 2000, Seattle, Washington
巻次・部編番号: :softbound
著者・編者: sponsored by JEDEC JC-14.7 Committee on GaAs Reliability and Quality Standards ; with Technical Co-Sponsorship of the Electron Device Society of the Institute of Electrical and Electronics Engineers
著者標目: GaAs Reliability Workshop
JEDEC JC-14.7 Committee on GaAs Reliability and Quality Standards
IEEE Electron Devices Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA01257512
出版事項: IEEE Service Center
出版年月日等: c2000
出版年（W3CDTF）: 2000
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 00TH8513
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Gallium arsenide semiconductors -- Reliability -- Congresses
Bipolar transistors -- Reliability -- Congresses
Accelerated life testing -- Congresses
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE catalog number 00TH8513"--T.P. verso
Includes bibliographical references
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA51066666#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA51066666 : BA51066666