Autotestcon 2004 proceedings : IEEE Systems Readiness Technology Conference : technology and tradition unite in San Antonio

著者: sponsors, IEEE Aerospace and Electronic Systems Society, IEEE Instrumentation and Measurement Society, IEEE Central Texas Council

資料に関する注記

一般注記：: "IEEE catalog number: 04CH37560"--T.p."San Antonio, TX, 20-23 September 2004"--CoverIncludes bibliographical references and index

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資料種別: 図書
ISBN: 0780384490
タイトル: Autotestcon 2004 proceedings : IEEE Systems Readiness Technology Conference : technology and tradition unite in San Antonio
著者・編者: sponsors, IEEE Aerospace and Electronic Systems Society, IEEE Instrumentation and Measurement Society, IEEE Central Texas Council
著者標目: Autotestcon
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03955611
IEEE Aerospace and Electronic Systems Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02635965
IEEE Instrumentation and Measurement Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA03955666
IEEE Central Texas Council
出版事項: Institute of Electrical and Electronic Engineers
出版年月日等: c2004
出版年（W3CDTF）: 2004
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: 04CH37560
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE catalog number: 04CH37560"--T.p.
"San Antonio, TX, 20-23 September 2004"--Cover
Includes bibliographical references and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA72215822#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA72215822 : BA72215822