Records of the 2000 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, August 7-8, 2000, San Jose, California, USA :case.

資料種別: 図書

著者: edited by R. Rajsuman, T. Wik ; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology ; in cooperation with The IEEE Solid State Circuits Society

出版者: Institute of Electrical and Electronics Engieers

出版年: c2000

資料形態: 紙

ページ数・大きさ等: 28 cm

NDC: -

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資料種別: 図書
ISBN: 0769506895
0769506909
タイトル: Records of the 2000 IEEE International Workshop on Memory Technology, Design and Testing, August 7-8, 2000, San Jose, California, USA
巻次・部編番号: :case.
著者・編者: edited by R. Rajsuman, T. Wik ; sponsored by IEEE Computer Society, IEEE Computer Society Technical Committee on VLSI, IEEE Computer Society Technical Council on Test Technology ; in cooperation with The IEEE Solid State Circuits Society
著者標目: IEEE International Workshop on Memory Technology, Design, and Testing
https://ci.nii.ac.jp/author/DA12300318
Rajsuman, Rochit
https://ci.nii.ac.jp/author/DA06745397
Wik, T.
IEEE Computer Society
https://ci.nii.ac.jp/author/DA00479199
IEEE Computer Society. Test Technology Technical Council
https://ci.nii.ac.jp/author/DA1250352X
IEEE Computer Society. Technical Committee on VLSI
https://ci.nii.ac.jp/author/DA04967445
IEEE Solid State Circuits Society
出版事項: Institute of Electrical and Electronics Engieers
出版年月日等: c2000
出版年（W3CDTF）: 2000
大きさ: 28 cm
並列タイトル等: PR00689
Memory Technology, Design and Testing
MTDT 2000
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE Computer Society Order Number PR00689"--T.p. verso
Includes bibliographical references and index
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA48496452#entity
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA48496452 : BA48496452