Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2009 proceedings : the International Symposium on Product Quality and Integrity, Fort Worth, Texas, USA on January 26-29, 2009

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資料種別: 電子資料
ISBN: 9781424425099
タイトル: Annual Reliability and Maintainability Symposium, 2009 proceedings : the International Symposium on Product Quality and Integrity, Fort Worth, Texas, USA on January 26-29, 2009
著者標目: Reliability and Maintainability Symposium
出版事項: Institute of Electrical and Electronics Engineers
出版年月日等: c2009
出版年（W3CDTF）: 2009
大きさ: 12 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
対象利用者: 一般
一般注記: "IEEE catalog number: CFP09RAM-CDR"--T. p. verso
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA90952516#entity
https://lccn.loc.gov/78132873
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA90952516 : BA90952516
LC control number: 78132873
https://lccn.loc.gov/78132873