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Test critiques v. 1

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一般注記：: Includes bibliographies and indexesv. 8-10 publisher: Austin, Texas : PRO-ED

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資料種別: 図書
ISBN: 0961128666
0961128674
0961128682
0933701020
0933701047
0933701101
0933701209
0890792542
0890795215
0890795967
タイトル: Test critiques
巻次・部編番号: v. 1
v. 2
v. 3
v. 4
v. 5
v. 6
v. 7
v. 8
v. 9
v.10
著者・編者: Daniel J. Keyser, Richard C. Sweetland, general editors
著者標目: Keyser, Daniel J.
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02101326
Sweetland, Richard C.
https://ci.nii.ac.jp/author/DA02101315
出版事項: Test Corporation of America
出版年月日等: c1984-
出版年（W3CDTF）: 1984
大きさ: 24 cm
出版地（国名コード）: us
本文の言語コード: en
件名標目: Psychological tests -- Evaluation
Educational tests and measurements -- Evaluation
Business -- Examinations -- Evaluation
LCC: BF176
対象利用者: 一般
一般注記: Includes bibliographies and indexes
v. 8-10 publisher: Austin, Texas : PRO-ED
関連情報（URI）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA0449542X#entity
https://lccn.loc.gov/84026895
連携機関・データベース: 国立情報学研究所 : CiNii Research
提供元機関・データベース: CiNii Books
https://ci.nii.ac.jp/books
NACSIS書誌ID（NCID）: https://ci.nii.ac.jp/ncid/BA0449542X : BA0449542X
LC control number: 84026895
https://lccn.loc.gov/84026895