メモリ保護対応RTOSにおけるメモリ保護機能のテスト (コンピュータシステム組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013)

メモリ保護対応RTOSにおけるメモリ保護機能のテスト

(コンピュータシステム組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013)

Journal name: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報 112(481):2013.3.13・14

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Material Type: 記事
Title: メモリ保護対応RTOSにおけるメモリ保護機能のテスト
Author/Editor: 風間佳之
作道直樹
段慧他
Series Title: コンピュータシステム組込み技術とネットワークに関するワークショップETNET2013
Author Heading: 風間佳之
作道直樹
段慧
Alternative Title: Memory Protection Test for Memory-Protected RTOS
Periodical title: 電子情報通信学会技術研究報告 = IEICE technical report : 信学技報
No. or year of volume/issue: 112(481):2013.3.13・14
Volume: 112
Issue: 481
Pages: 7-12
Publication date of volume/issue (W3CDTF): 2013-03
ISSN (Periodical Title): 0913-5685
ISSN-L (Periodical Title): 0913-5685
Publication (Periodical Title): 東京 : 電子情報通信学会
Place of Publication (Country Code): JP
Text Language Code: jpn
NDLC: ZN33
Target Audience: 一般
Report No. (Article): Vol.2013-SLDM-160No.2
Holding library: 国立国会図書館
Call No.: Z16-940
Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引
https://ndlsearch.ndl.go.jp
Bibliographic ID (NDL): 024407158
http://id.ndl.go.jp/bib/024407158
Bibliographic Record Category (NDL): 632