酸化ガリウム系ヘテロ接合界面におけるキャリア閉じ込めの観察 (電子デバイス研究会 次世代化合物半導体デバイスの機能と応用)

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酸化ガリウム系ヘテロ接合界面におけるキャリア閉じ込めの観察

(電子デバイス研究会 次世代化合物半導体デバイスの機能と応用)

Call No. (NDL)
Z43-225
Bibliographic ID of National Diet Library
028118787
Material type
記事
Author
大島 孝仁ほか
Publisher
東京 : 電気学会
Publication date
2017-03
Material Format
Paper
Journal name
電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編] 2017(42-51):2017.3.9・10
Publication Page
p.1-6
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Paper

Material Type
記事
Author/Editor
大島 孝仁
加藤 勇次
河野 直士
大石 敏之
嘉数 誠
倉又 朗人
山腰 茂伸
藤田 静雄
Alternative Title
Observation of carrier confinement at a (Al,Ga)₂O₃/Ga₂O₃ heterojunction interface
Periodical title
電気学会研究会資料. EDD = The papers of technical meeting on electron devices, IEE Japan / 電子デバイス研究会 [編]
No. or year of volume/issue
2017(42-51):2017.3.9・10
Volume
2017
Issue
42-51