SiC-MOSFETにおける短絡耐量と特性オン抵抗のトレードオフ関係の評価 (電子デバイス 半導体電力変換合同研究会・パワーデバイス・パワーエレクトロニクスとその実装技術)

Icons representing 記事

SiC-MOSFETにおける短絡耐量と特性オン抵抗のトレードオフ関係の評価

(電子デバイス 半導体電力変換合同研究会・パワーデバイス・パワーエレクトロニクスとその実装技術)

Call No. (NDL)
Z43-243
Bibliographic ID of National Diet Library
028712057
Material type
記事
Author
大嶋 俊之ほか
Publisher
東京 : 電気学会
Publication date
2017-11-20
Material Format
Paper
Journal name
電気学会研究会資料. SPC = The papers of technical meeting on semiconductor power converter, IEE Japan / 半導体電力変換研究会 [編] 2017(151-164・166-172):2017.11.20
Publication Page
p.19-22
View All

Bibliographic Record

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Paper

Material Type
記事
Author/Editor
大嶋 俊之
大橋 輝之
池田 健太郎
飯島 良介
高尾 和人
Alternative Title
Evaluation of the trade-off between specific on-resistance and short-circuit ruggedness of SiC-MOSFETs
Periodical title
電気学会研究会資料. SPC = The papers of technical meeting on semiconductor power converter, IEE Japan / 半導体電力変換研究会 [編]
No. or year of volume/issue
2017(151-164・166-172):2017.11.20
Volume
2017
Issue
151-164・166-172