少量試料を用いた清浄な液体中微粒子数の測定

• Material Type: 記事
• Title: 少量試料を用いた清浄な液体中微粒子数の測定
• Author/Editor: 野沢 明義; 井村 美奈子; 大高 好久
• Author Heading: 野沢 明義; 井村 美奈子; 大高 好久
• Periodical title: 分析化学 / 日本分析化学会 編
• No. or year of volume/issue: 34(11) 1985.11
• Volume: 34
• Issue: 11
• Pages: Tp148～151
• Publication date of volume/issue (W3CDTF): 1985-11
• ISSN (Periodical Title): 0525-1931
• ISSN-L (Periodical Title): 0525-1931
• Publication (Periodical Title): 東京 : 日本分析化学会
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn
• NDLC: ZP4
• Target Audience: 一般
• Article Type: 記事分類: 化学・化学工業--化学実験・分析化学
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > 電子書籍・電子雑誌 > 学術機関 > 学協会; https://dl.ndl.go.jp/collections/B00043
• Access Restrictions: インターネット公開
• Availability of remote photoduplication service: 不可
• Holding library: 国立国会図書館
• Call No.: Z17-9
• Related Material (URI): http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10891081
• Related Material (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/10891081; http://dl.ndl.go.jp/info:ndljp/pid/10891081
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館雑誌記事索引; https://ndlsearch.ndl.go.jp
• Bibliographic ID (NDL): 3056462; http://id.ndl.go.jp/bib/3056462
• Bibliographic Record Category (NDL): 632

• Summary, etc.: フォトレジスト,ゼラチン感光液などエレクトロニクス原料は清浄であることが要求されているが,高価であるため,その中に含まれる微粒子(ダスト)の数の測定には少量の試料しか使用を許されない.著者らはダスト計数の基準と考えられる濾過検鏡法に基づく測定技術を開発した.この技術は,濾紙のから試験値の極端な低減を...