走査型トンネル顕微鏡を用いた極薄シリコン酸化膜の形成及び劣化に関する研究

Notes on use

Search by Bookstore

This page shows libraries in Japan other than the National Diet Library that hold the material.

Please contact your local library for information on how to use materials or whether it is possible to request materials from the holding libraries.

other

NAGOYA Repository
Digital
You can check the holdings of institutions and databases with which 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ） is linked at the site of 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）.
NAGOYA Repository

You can check the details of this material, its authority (keywords that refer to materials on the same subject, author's name, etc.), etc.

Material Type: 博士論文
Title: 走査型トンネル顕微鏡を用いた極薄シリコン酸化膜の形成及び劣化に関する研究
Author/Editor: 大毛利, 健治
Author Heading: 大毛利, 健治
Publication Date: 2000-03-27
Publication Date (W3CDTF): 2000-03-27
Alternative Title: Study on Formation and Degradation of Ultra-Thin SiO2 Films Using Scanning Tunneling Microscopy
Degree grantor/type: 名古屋大学
Date Granted: 2000-03-27
Dissertation Number: 甲第4710号
Degree Type: 博士(工学)
Text Language Code: jpn
Target Audience: 一般
Note (General): 名古屋大学博士学位論文学位の種類:博士(工学) (課程) 学位授与年月日:平成12年3月27日
Format (IMT): application/pdf
Source: k4710.pdf （fulltext）
https://nagoya.repo.nii.ac.jp/record/14425/files/k4710.pdf
Access Restrictions: インターネット公開
Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）
https://irdb.nii.ac.jp
Original Data Provider (Database): 名古屋大学 : 名古屋大学学術機関リポジトリ