Phenix-P2の照射後試験,2; ラッピングワイヤ,ラッパ管,パッド材の試験

• Material Type: 文書・図像類
• Title: Phenix-P2の照射後試験,2; ラッピングワイヤ,ラッパ管,パッド材の試験
• Author/Editor: 両角 勝文; 伊藤 正彦; 樫原 英千世; 小野瀬 庄二; 大原 清海; 小形 佳昭
• Author Heading: 両角 勝文; 伊藤 正彦; 樫原 英千世; 小野瀬 庄二; 大原 清海; 小形 佳昭
• Publication Date: 1989-02
• Publication Date (W3CDTF): 1989-02
• Alternative Title: None
• Periodical title: PNC TN9410 89-174
• Text Language Code: jpn
• Target Audience: 一般
• Note (General): フランスの高速原型炉フェニックス炉にて、395$^{\circ}C$$\sim$620$^{\circ}C$の温度範囲で、最大1.3$\times$10$\times$23n/cm$\times$2(E$>$0.1MeV)まで照射された「もんじゅ」用ラッピングワイヤ試作材、49年度試作のラッパ管及びパッド材について、外観検査,寸法測定,密度測定,引張試験,金相試験等を実施した。得られた主な結果をまとめると以下の通りである。(1)容体化処理ラッピングワイヤのスエリングは、照射量1.3$\times$10$\times$23n/cm$\times$2(E$>$0.1MeV)で12.7\%であり、定常スエリング期にはいっている。また、20\%の冷間加工を施されたラッピングワイヤのスエリングは3.4\%で、冷間加工はスエリングを抑制することが明らかとなった。(2)ラッパ管材のスエリングは、9.3$\times$10$\times$22n/cm$\times$2(E$>$0.1MeV)の照射量にても観られず、スエリングの潜伏期にある。引張強度は照射温度が500$^{\circ}C$では、未照射材の強度とほぼ同じであるが、照射温度が600$^{\circ}C$では未照射材に比べて低下する。(3)クロムカーバイドLC―1C,インコネル718及びステライトN-6パッド部表面硬化材は、照射によっても母材よりも剥離せず健全な状態を保っていたが、コルモノイN-6は母材より剥離していた。; None
• Source: /PNC-TN9410-89-174.pdf （fulltext）; https://jopss.jaea.go.jp/pdfdata/PNC-TN9410-89-174.pdf
• Access Restrictions: 限定公開
• Data Provider (Database): 国立情報学研究所 : 学術機関リポジトリデータベース（IRDB）（機関リポジトリ）; https://irdb.nii.ac.jp
• Original Data Provider (Database): 日本原子力研究開発機構 : JOPSS:JAEA Originated Papers Searching System

• Summary, etc.: フランスの高速原型炉フェニックス炉にて、395$^{\circ}C$$\sim$620$^{\circ}C$の温度範囲で、最大1.3$\times$10$\times$23n/cm$\times$2(E$>$0.1MeV)まで照射された「もんじゅ」用ラッピングワイヤ試作材、49年度試作のラッパ管及び...