質量分析25(4)(79)

• Material Type: 雑誌
• ISSN: 0542-8645; 1340-8097
• ISSN-L: 0542-8645; 1340-8097
• Title: 質量分析
• Title Transcription: シツリョウ ブンセキ
• Volume: 25(4)(79)
• Author Heading: 日本質量分析学会 ニホン シツリョウ ブンセキ ガッカイ
• Publication, Distribution, etc.: 東京 : 日本質量分析学会
• Publication Date: 1977-12
• Publication Date (W3CDTF): 1977-12
• Year and volume of publication: 1号(1953年7月) - 16号(1960年12月) ; 9巻1号=17号(1961年4月) - 45巻6号=186号
• Size: 26cm
• Alternative Title: Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan Journal of the Mass Spectrometry Society of Japan
• Place of Publication (Country Code): JP
• Text Language Code: jpn; eng
• NDLC: ZP4; ZM35
• Note (General): 本タイトル等は最新号による; 3号から40巻6号までの並列タイトル: Mass spectroscopy 1号から10巻2号までの出版者: 質量分析研究会
• Note (Cumulative Index): 総目次: 40巻6号収載
• DOI: 10.11501/2287070; https://doi.org/10.11501/2287070
• Persistent ID (NDL): info:ndljp/pid/2287070; https://dl.ndl.go.jp/pid/2287070
• Collection (particular): 国立国会図書館デジタルコレクション > デジタル化資料 > 雑誌; https://dl.ndl.go.jp/collections/A00002
• Producer: 国立国会図書館
• Production year (W3CDTF): 2011-03-31
• Date Accepted (W3CDTF): 2011-06-30T16:46:39+09:00
• Format (IMT): image/jp2
• Access Restrictions: 国立国会図書館内限定公開
• Service for the Digitized Contents Transmission Service: 図書館・個人送信対象外
• Availability of remote photoduplication service: 可
• Year and volume of holding: 1号(1953年7月) - 16号(1960年12月) ; 9巻1号=17号(1961年4月) - 45巻6号=186号(平9.11)
• Call No.: Z17-213
• Original Material (JPNO): 00010221
• Periodical Title (Persistent ID (NDL)): info:ndljp/pid/2384996; https://dl.ndl.go.jp/pid/2384996
• Data Provider (Database): 国立国会図書館 : 国立国会図書館デジタルコレクション; https://dl.ndl.go.jp

Table of Contents

SIMSによる水素の分析

SIMSによる深さ方向の濃度分布測定

酸素イオン照射時の二次イオン生成過程について

Use of SIMS to Determine Pure and Oxidized Elements in a Solid Surface

イオンマイクロアナライザ-における中性粒子の利用